SWT-NEOⅡ/NEOⅢ
双式膜厚仪

• 可根据测量目的选择连接探头。

• 液晶显示屏上显示引导操作流程。

• 大容量测量值存储器（NEOⅡ：20,000点，NEOⅢ：40,000点）。

• 通过注册校准曲线轻松调用测量

• 内置上下限设置及统计计算功能。

• 数据可以通过USB连接传输到计算机。

• 内置指定低功率无线输出（NEO-III）。

• 倾斜支架

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