HIOKI日置
阻抗分析仪 IM7580A
2024年08月14日
阻抗分析仪
IM7580A
● 测定周波数1MHz〜300MHz
● 测量时间:最快0.5ms(模拟测量时间)
● 基本精度±0.72% rdg.
● 测定方式: RF IV法
● 主体为半机架大小,测试头为手掌大小。
● 完整的接触检查(DCR测量、Hi-Z抑制、波形判断)
● 在分析仪模式下,一边扫描测量频率和测量信号电平一边进行测量。
客服电话:13341245831
新闻发布
HIOKI日置
2024年08月14日
● 测定周波数1MHz〜300MHz
● 测量时间:最快0.5ms(模拟测量时间)
● 基本精度±0.72% rdg.
● 测定方式: RF IV法
● 主体为半机架大小,测试头为手掌大小。
● 完整的接触检查(DCR测量、Hi-Z抑制、波形判断)
● 在分析仪模式下,一边扫描测量频率和测量信号电平一边进行测量。
客服电话:13341245831